计算机应用
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计算机应用  2013, Vol. 33 Issue (09): 2698-2700    DOI: 10.11772/j.issn.1001-9081.2013.09.2698
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基于改进Canny算子的LED晶片边缘检测
温阳东1,顾倩芸1,陈雪峰2
1. 合肥工业大学 电气与自动化工程学院, 合肥 230009
2. 合肥工业大学合肥工业大学 电气与自动化工程学院, 合肥 230009
LED wafer edge detection based on improved Canny operator
WEN Yangdong,GU Qianyun,CHEN Xuefeng
School of Electrical Engineering and Automation, Hefei University of Technology, Hefei Anhui 230009, China



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