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1. 基于三维线性反馈移位寄存器的三维堆叠集成电路可重构测试方案

陈田, 鲁建勇, 刘军, 梁华国, 鲁迎春

《计算机应用》唯一官方网站 2023, 43 (3): 949-955. DOI: 10.11772/j.issn.1001-9081.2022020186

摘要（272）

HTML （4）

PDF （2075KB）（103）

PDF（mobile）（1205KB）（2）

三维堆叠集成电路（3D SIC）结构复杂，相较于二维集成电路（2D IC），设计有效的测试结构以降低测试成本更加困难。为降低3D SIC的测试成本，提出一种基于线性反馈移位寄存器（LFSR）的能够有效适应3D SIC不同测试阶段的三维LFSR（3D-LFSR）测试结构。3D-LFSR结构能够在堆叠前独立进行测试；在堆叠后，复用堆叠前的测试结构，并重构为一个适合当前待测电路的测试结构，且重构后的测试结构能进一步降低测试成本。基于3D-LFSR结构，设计了测试数据处理方法和测试流程，并采用混合测试模式以降低测试时间。实验结果表明，相较于双LFSR结构，3D-LFSR结构的平均功耗降低了40.19%，平均面积开销降低了21.31%，测试数据压缩率提升了5.22个百分点；相较于串行测试模式，采用混合测试模式的平均测试时间减少了20.49%。

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2. 选择序列的并行折叠计数器

李扬梁华国蒋翠云常郝易茂祥方祥圣杨彬

计算机应用 2014, 34 (1): 36-40. DOI: 10.11772/j.issn.1001-9081.2014.01.0036

摘要（502）

PDF （833KB）（442）

为了减少测试应用时间并保证高测试数据压缩率,提出一种选择序列的并行折叠计数器。在分析并行折叠计算理论的基础上,通过记录表示折叠索引的组序号和组内序号生成选择状态的测试序列,避免了无用和冗余的测试序列的生成。ISCAS标准电路的实验结果表明,该方案的平均测试数据压缩率为94.48%,平均测试应用时间为类似方案的15.31%。

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3. 一种基于三模冗余令牌的自恢复控制器

孙科梁华国黄正峰王伟

计算机应用

摘要（988）

PDF （541KB）（1416）

针对集成电路特征尺寸进入纳米级后软错误率持续攀升的问题，本文以状态机拆分和三模冗余令牌为基础，提出更为可靠的自恢复控制器结构，并对典型基准电路进行了故障注入和仿真综合实验。结果表明，该结构以很小的硬件代价取得了更好的容错效果

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4. 功耗限制下的NoC测试端口的优化选择方法

欧阳一鸣冯伟梁华国

计算机应用

摘要（1272）

提出了一种NoC测试端口位置和数量的优化选取的方法，它在系统功耗限制的条件下，确定input/output端口的对数，以所有核测试路径总和最短为目标，优化选取NoC 测试端口的最佳位置。本方案在测试功耗不超过系统允许的最大功耗条件下，最大限度地选取测试端口的对数来进行并行测试，从而能高效地完成对核的测试，同时又能有效地避免因测试带来的器件损坏。实验结果表明这种方法提高了测试效率，降低了NoC的总体测试代价。

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5. 组扩展编码在测试数据压缩中的应用

王保青梁华国詹文法

计算机应用

摘要（1444）

PDF （717KB）（1091）

为了减少SoC芯片的测试数据，提出了一种基于组扩展编码的测试数据压缩方案。该方案采用变长到变长的编码方式对任意长度的0游程和1游程编码，代码字由标记位、前缀和尾部组成。组扩展码将每组的容量扩大了一倍，能有效压缩芯片测试数据量。理论分析和实验结果表明组扩展编码能取得很好的压缩效果，而且能够更好地适应于不同的测试电路。

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6. 分组频率Golomb码测试数据压缩研究

叶益群梁华国祝沈财张念詹凯华

计算机应用

摘要（1438）

提出了一种称为分组频率Golomb码的测试数据压缩方法。方案针对测试集中游程长度分布的不均匀性，重新构建Golomb码的前缀码，用短码字来编码包含游程长度多的分组。同时，在差分过程中，通过给无关位合理赋值来减少测试集中"1"的个数，从而减少了游程的数目。实验结果表明，建议方案能有效提高Golomb码的压缩率。

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7. 基于折半划分的测试数据压缩方法

张念梁华国易茂祥

计算机应用

摘要（1401）

提出了一种新的测试数据压缩方法，它能有效地压缩测试数据。首先将整个测试集划分成若干定长块，对非全0/1块，使用折半的方法划分；对全0/1块，使用标记位来表示划分的次数。与传统的编码压缩方法相比，它只需要记住数据块被折半划分的次数就可表示其长度，同时还具有硬件解压结构和通信协议简单的优势。

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8. 基于折叠集的低功耗测试

祝沈财蒋翠云梁华国叶益群张念

计算机应用

摘要（1393）

提出了一种利用折叠计数器特点，基于完全测试集的低功耗测试方案。方案先用几个相关性很好的折叠集测试电路中大部分的故障，然后直接翻转扫描单元中的数据得到剩余故障的测试向量。在硬件上，采用一个地址计数器和随机访问扫描（RAS）结构相结合实现了并行的折叠控制。与传统的混合测试模式相比，克服了伪随机测试阶段带来的功耗问题。实验结果表明，该方案能够有效降低测试功耗和测试时间。

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