改进掩码自编码器的工业缺陷检测方法

邓凯丽, 魏伟波, 潘振宽

Industrial defect detection method with improved masked autoencoder

Kaili DENG, Weibo WEI, Zhenkuan PAN

《计算机应用》唯一官方网站 . 2024, (8): 2595 -2603 . DOI: 10.11772/j.issn.1001-9081.2023081122